低損耗光學元件的反射率和透射率的確定

1）通過腔衰減時間測量，可以非常地測量反射率值R> 99％，透射率值T> 99％的低損耗光學元件。 與光譜儀中的測量相比，該方法有三個主要優點：

2）適用于非常高的反射率和透射率

3）不可能獲得高于實際值的測量值

4）它具有非常高的精度

基本CRD測量設置

Layertec配有各種腔體環形系統，可以穩定地控制光學元件的質量。 有關更多詳細信息，請參閱我們的目錄內容“低損耗光學和腔體衰減時間測量簡介”。

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